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精密lcr測試儀

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C測試儀 3504-60/ 3504-50/ 3504-40

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

精密lcr測試儀

  • 高速測量2ms
  • 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷
  • 對應測試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能
  • 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
  • 3504-40記錄工具,實現(xiàn)高速/低成本的測試
  • 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

 

輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件

 

 

精密lcr測試儀基本參數(shù)

 

測量參數(shù)

Cs,Cp(電容),D(損耗系數(shù)tanδ)

測量范圍

C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000

基本精度

(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數(shù)

測量頻率

120Hz, 1kHz

測量信號電平

恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60), 500 mV, 1 V
測量范圍:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)

輸出電阻

5Ω(CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時)

顯示

發(fā)光二級管 (6位表示,滿量程計算器根據(jù)量程而定)

測量時間

典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同

功能

BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標配), GP-IB接口(3504-40除外)

電源

AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, zui大110VA

體積及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

電源線×1,預備電源保險絲×1,使用說明書×1

 

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