DL850 示波記錄儀 |
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詳細介紹 |
DL850示波記錄儀系列是模塊化波形記錄儀,可以同時測量電壓、電流、應變、加速度等多種信號。 DL850系列具有高速采樣、高絕緣耐壓、多通道測量等優點,為節能領域的設備開發、評估和質量控制提供強有力的支持。
超高速存儲記錄儀 · 高速(可達100MS/s)、高分辨率(zui高16位)、隔離(zui高1kV*1) · 多通道,多達128個電壓通道或128位邏輯輸入 · 能以100kS/s的速度在16個通道同時進行連續硬盤記錄*2 · 監視CAN總線、顯示趨勢波形(僅限DL850V) · 15個插拔模塊 *1.與隔離探頭(700929或701947)組合使用時 測量越來越快的變頻器信號 高速(100MS/s)、高分辨率(12位)、1kV絕緣測量。*
實例:以10MS/s和100MS/s的速度測量同一變頻器輸出波形。 DL850擁有15種*的插入式模塊,幾乎可滿足任何測量任務。 DL850除了向后兼容DL750的所有測量模塊外,又在產品線中增加了四個新的模塊。自由組合這些模塊后,不管是微弱電壓到高速、高壓信號都可測量。
更良好 – 更多的測量點 – zui多128 CH的電壓輸入和128位的邏輯輸入 使用16-CH電壓輸入模塊(掃描型*)時,即使16個通道全部使用,也能以10kS/s的采樣率進行測量。使用8個輸入模塊插槽,DL850可執行128CH的電壓測量。 邏輯輸入模塊能夠以高達10MS/s*的速度,測量從TTL電平到高電壓接點閉合的所有信號。通過八個邏輯模塊,DL850可以監視并執行128位的邏輯測量。 實例:測量多輸出電源 家用電子產品的電源輸出數量較多,需要控制各個輸出之間的順序。使用多通道模塊,就不再局限于電壓測量,只要一臺儀器就可以完成從PC控制信號到AC風扇動作、每個部件的溫度,從低速至高速信號的所有測量。
以高采樣率捕捉耐久性測試中的突發現象 – 雙捕獲功能 進行耐久性測試時,為能把握長時間的趨勢數據,通常以低采樣速率采集趨勢數據。但突發的高速瞬時現象,需要用高采樣率來捕捉。 1. 縮放波形 - zui大采樣率為100kS/s時,可以邊進行趨勢測量邊以zui高100MS/s的速度記錄5k~500kpts的高速觸發測量數據,zui多可以記錄5000個現象。記錄長度為5-500k點。 2. 事件波形 - 顯示采集到高速波形時的時間。 3. 低速主波形 - zui高100 kS/s 以低速滾動模式顯示趨勢波形 4. 捕捉波形 - zui高100MS/s以高速觸發測量捕捉突發現象
實例:部件耐久測試 汽車以及其它交通運輸工具的部件對可靠性的要求非常高。在不同溫度環境下執行連接器的振動試驗時,“雙捕獲”功能將發揮作用。 · 用高采樣速率準確觀測震動 · 用低速采樣率確認發生頻率 功能1: 回放過去的波形 – 歷史功能 執行高速重復測量期間,當您看到異常現象并按停止鍵時,異常現象往往已從屏幕上消失。 通過歷史功能,可自動對大容量內存進行分割并自動保存多達5,000屏歷史波形,隨時可以回放這些波形。
搜索歷史波形
擁有豐富的觸發功能 簡單觸發&增強觸發 DL除了提供易于使用的“簡單”觸發外,還有各種“增強”觸發功能,通過豐富的組合確保捕捉到想要的波形。 通過良好、易于理解的圖形用戶界面,可以直觀地設置增強觸發條件。
· 邊沿:在單一的觸發源的邊沿觸發(上升、下降、上升/下降) · 時間:按時間或固定間隔觸發 增強觸發 · A -> B(N):滿足條件A后,條件B第N次得到滿足時觸發 · A Delay B:滿足條件A并且時間已超過所設定的延遲量后,滿足條件B時觸發 · Edge On A:在滿足觸發條件A的情況下,在另一個邊沿觸發的OR條件下觸發 · OR:多個觸發源中只要滿足一個觸發條件就觸發 · AND:多個觸發源的觸發條件都滿足時觸發 · 周期:滿足波形周期的條件時觸發 · 脈寬:在脈寬條件滿足時間和設置時間長度的條件下觸發 · 波形窗口:通過生成的波形窗口時觸發 實例:“A Delay B”觸發設置屏幕(GUI)
波形窗口觸發 波形窗口觸發功能可用于診斷典型的電源故障,如瞬時斷電、電壓下降或浪涌。此外,還可以高效檢測頻率波動、電壓下降等現象(波形為40~1,000Hz的交流波形)。比較當前波形與基準波形(實時模板),如果當前波形超出容許的范圍后觸發。基準波形由前一波形實時自動生成。
動作觸發 捕捉到不常發生的現象時,可以使用“動作觸發”功能,觸發時執行事先的多個動作。
優異的抗噪聲性能 通過低噪聲設計實現了良好的抗干擾性能。變頻器電路中的浮動電壓切換波形也可準確捕捉。
功能2: 實時噪聲抑制處理和功率運算 – 實時運算(/G3選件) DL850配備用于運算的DSP(數字信號處理器),捕捉波形期間可實時執行通道間的運算。通道間的運算功能十分強大,可以按通道分別設置濾波運算。除FIR、IIR、高斯函數和移動平均濾波之外,還可以使用zui多30個公式,例如帶系數的四則運算、積分和微分、高階函數運算等。 · 顯示測量波形和運算波形的任意組合(總數zui多16個)。 · 可以設置無模塊通道。
通過豐富的函數功能可直接顯示想要的波形 – 用戶自定義運算(/G2選件) DL標配四則運算、時移、FFT等運算功能,可以顯示消除偏置或去除延遲后的波形。此外,還增加了用戶自定義運算功能(/G2選件),可以將微積分、數字濾波等多種函數進行組合并執行運算。 用戶自定義運算的設置屏幕
自動提取振幅、頻率和其它參數 – 波形參數和統計運算 在26種波形參數(波幅、頻率等)中,zui多可同時提取并顯示24個參數。菜單以圖標列表的形式顯示,便于查看。
檢測和通知異常波形、判斷通過/不通過 - Go/NO-GO判斷 DL可以判斷波形或波形參數運算值滿足(GO)或不滿足(NO-GO)預設的條件。判斷測量結果時,將執行預設動作,并向用戶通報觀測到的異常波形和通過/不通過判斷
支持多臺儀器同步測量 – IRIG輸入(/C20選件)
支持外部硬盤 – 外部硬盤接口(/HD0選件)
確認遲滯和相位之間的關系 – XY顯示功能 通過X-Y顯示,可以確認兩個信號之間的關系。此功能可用于測量兩個正弦波的相位角等。 X軸和Y軸的組合設置多達四種,可以同時顯示多個X-Y波形,這樣便于找到相互間的關系。 還可以同時觀測X-Y波形和正常T-Y波形(用電*和時間軸顯示波形)。 實例:磁體動態BH特性運算 使用DL850可以測量磁芯的電壓和電流,然后分析磁體磁通密度B和磁場強度H的遲滯。通過測量動態BH特性,可以評估磁致伸縮產生的能量損耗。
磁通密度:B = Integ (C1) / (K1*K2) 連接接口:
1. EXT I/O - 可輸出GO/NO-GO判斷結果,也可以通過開始/結束和其它其它外部信號控制儀器 2. 外部時鐘I/O (EXT CLK IN) - 根據外部信號執行時鐘采樣(zui高9.5MHz)。 3. 外部觸發輸入(EXT TRIG IN) 4. 外部觸發輸出(EXT TRIG OUT) 5. 視頻信號輸出(VIDEO OUT) - 在外部RGB (XGA)顯示器上確認波形。 6. USB-PC接口 - 可從PC控制儀器。 7. 以太網1000BASE-T - 標配 8. GP-IB(可選) 9. IRIG(可選*2) - 輸入外部時間信號,實現多臺DL850同步。 10. 外部硬盤接口(可選*1) - 連接eSATA標準硬盤。 11. SD卡插槽 - 符合SD、SDHC標準,標配 12. USB外圍設備接口 - 支持USB存儲器、鍵盤和鼠標輸入。
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